Misura e Caratterizzazione

qodef-image-with-icon

Il NEST si avvale di molteplici strumenti per la misura e caratterizzazione morfologica, elettrica, magnetica di materiali e sistemi nanostrutturali.

Un elenco dettagliato dei principali laboratori e dei vari tipi di strumentazione è disponibile sul portale www.laboratorionest.it/facilities, mentre nel seguito sono riportati alcuni degli strumenti che sono disponibili presso il centro per l’analisi e la caratterizzazione di materiali e dispositivi fino alla scala nanometrica.

Caratterizzazione ottica

Al CCNEST sono disponibili diverse tipologie di microscopia ottica, sia standard che a fluorescenza, sia in trasmissione che in riflessione, con tecniche di contrasto interferenziale (DIC) e di polarizzazione.

Microscopia elettronica a scansione (SEM, TEM)

I due sistemi della ZEISS (modelli Merlin e Ultraplus) del tipo field-emission gun (FEG) sono in grado di fare imaging (anche in modalità STEM) ad alta risoluzione anche su campioni isolanti mediante l’impiego di un sistema di compensazione di carica. Attraverso la collaborazione con il centro IIT@NEST è disponibile anche un TEM ZEISS della serie Libra da 120 keV con possibilità di fare imaging STEM e dotato di una speciale tecnica di caratterizzazione delle diverse fasi cristalline del campione con risoluzione da 10 nm.

Analisi composizionale

L’analisi composizionale spazialmente risolta è disponibile sia sul sistema UltraPlus, con due analizzatori EDS Quantax della Bruker, che sul sistema TEM. Sono inoltre disponibili tecniche EELS e tecniche composizionali legate alla microscopia SPM.

Caratterizzazione topografica 3D

Per la caratterizzazione topografica tridimensionale (3D) sono disponibili diverse strumentazionie e tecniche: profilometria a stilo (DX-Bruker) e ottica (CCI-HD Taylor-Hobson), e tecniche di microscopia a scansione di sonda (Icon-Bruker), in grado di fornire profili e mappe a risoluzione naometrica di diverse tipologie di campioni.

Misure di trasporto elettronico

Al CCNEST sono disponibili diversi set-up per il trasporto elettronico, da bassissime temperature (10 mK) ad alti campi magnetici (16 Tesla). Sono presenti anche sistemi per la microscopia che permettono di associare la topografia del campione alle sue proprietà di trasporto elettronico come la scanning gate microscopy (SGM) e un sistema di minirobot della Imina Technology in grado di fare misure elettriche e nanomanipolazione sia con l’ausilio di microscopia ottica che di microscopia elettronica.